Electron Microscopy, Holography and Spectroscopy

Ziel dieses Kurses ist es, sich mit der Materialcharakterisierung mittels elektronenmikroskopischer Methoden vertraut zu machen, einschließlich hochauflösender Elektronenmikroskopie, Elektronenholographie, Elektronentomographie und Elektronenenergieverlustspektroskopie. Die folgenden Themen werden behandelt: Wechselwirkung schneller Elektronen mit Materie (elastische Streuung an elektrischen und magnetischen Feldern, inelastische Wechselwirkung einschließlich Phononen-, Plasmonen- und Exzitonenanregung, Kernelektronenanregung), allgemeiner Aufbau eines Elektronenmikroskops (Quelle, Linsen, Aberrationskorrektor, Energiefilter, Detektor), Kontrastmechanismen und Wellenoptik, hochauflösende Bildgebung und Atomgitteranalyse, Elektronenbeugung und Symmetriebestimmung, Elektronenholographie und Abbildung elektrischer und magnetischer Felder, Elektronentomographie und 3D-Charakterisierung, Elektronenenergieverlustspektroskopie bei niedrigen und hohen Energieverlusten für die Analyse optoelektronischer Eigenschaften und chemisches Mapping. Ein Hands-on-Kurs über moderne Transmissionselektronenmikroskope ist fakultativ.

Zeit und Ort: DI 11.10-12.40 (3. DS), REC/C213/H